|
|
Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie
Hegrová, Veronika ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Konečný, Martin (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá využitím korelativní sondové a elektronové mikroskopie. Měření bylo provedeno pomocí atomárního silového mikroskopu LiteScope navrženého speciálně ke kombinaci s elektronovými mikroskopy. Výhody korelativního AFM/SEM zobrazení jsou demonstrovány na vybraných vzorcích z oblasti nanotechnologií a materiálových věd. Možné aplikační využití korelativního AFM/SEM zobrazení bylo navrženo a následně realizováno zejména v případě nízkodimenzionálních struktur a tenkých vrstev. Dále se tato práce věnuje možnosti kombinace korelativní AFM/SEM mikroskopie s dalšími integrovanými metodami elektronového mikroskopu jako technikou fokusovaného iontového svazku a rentgenovou spektroskopií.
|
|
|
Příprava a charakterizace dvourozměrných heterostruktur
Majerová, Irena ; Švec, Martin (oponent) ; Procházka, Pavel (vedoucí práce)
Po experimentálním získání grafénu počátkem 21. století došlo k objevení mnoha dalších zajímavých 2D materiálů. Elektrické a optické vlastnosti těchto vrstev jsou však značně ovlivněny složením a kvalitou okolních materiálů. Za účelem zachování výjimečných vlastností tenkých vrstev se s postupem času začala pozornost vztahovat k heterostrukturám z 2D materiálů složených. Tato diplomová práce se zabývá přípravou a charakterizací heterostruktur složených z grafénu a hexagonálního nitridu boritého, se zaměřením na optimalizaci výrobního procesu heterostruktur metodou suchého přenosu tenkých vrstev připravených mikromechanickou exfoliací. Charakterizace a kvalita připravených vrstev je kontrolována pomocí Ramanovy spektroskopie a morfologie je zkoumána pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Dále jsou v práci diskutovány elektrické vlastnosti vyrobeného grafén-hBN zařízení a měřena pohyblivost nosičů náboje grafénového tranzistoru řízeného polem.
|
|
|
Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie
Hegrová, Veronika ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Konečný, Martin (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá využitím korelativní sondové a elektronové mikroskopie. Měření bylo provedeno pomocí atomárního silového mikroskopu LiteScope navrženého speciálně ke kombinaci s elektronovými mikroskopy. Výhody korelativního AFM/SEM zobrazení jsou demonstrovány na vybraných vzorcích z oblasti nanotechnologií a materiálových věd. Možné aplikační využití korelativního AFM/SEM zobrazení bylo navrženo a následně realizováno zejména v případě nízkodimenzionálních struktur a tenkých vrstev. Dále se tato práce věnuje možnosti kombinace korelativní AFM/SEM mikroskopie s dalšími integrovanými metodami elektronového mikroskopu jako technikou fokusovaného iontového svazku a rentgenovou spektroskopií.
|
|
|
Příprava a charakterizace dvourozměrných heterostruktur
Majerová, Irena ; Švec, Martin (oponent) ; Procházka, Pavel (vedoucí práce)
Po experimentálním získání grafénu počátkem 21. století došlo k objevení mnoha dalších zajímavých 2D materiálů. Elektrické a optické vlastnosti těchto vrstev jsou však značně ovlivněny složením a kvalitou okolních materiálů. Za účelem zachování výjimečných vlastností tenkých vrstev se s postupem času začala pozornost vztahovat k heterostrukturám z 2D materiálů složených. Tato diplomová práce se zabývá přípravou a charakterizací heterostruktur složených z grafénu a hexagonálního nitridu boritého, se zaměřením na optimalizaci výrobního procesu heterostruktur metodou suchého přenosu tenkých vrstev připravených mikromechanickou exfoliací. Charakterizace a kvalita připravených vrstev je kontrolována pomocí Ramanovy spektroskopie a morfologie je zkoumána pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM). Dále jsou v práci diskutovány elektrické vlastnosti vyrobeného grafén-hBN zařízení a měřena pohyblivost nosičů náboje grafénového tranzistoru řízeného polem.
|
host ::
RSS.